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2012年7月26日 (木)

Bi2Sr2CaCu2Oy-T1-12 (その5)

前回のスキャンは、途中で、磁束ジャンプがおきて試料が大きく動いたようで、フィードバックレンジではトンネル電流が流れないところまで試料探針間距離が離れてしまった。再度アプローチしてスキャンしたところ視野が元の場所に戻っていたので、改めて、超伝導電流の減衰とそれに伴う磁歪が視野のドリフトの原因と考えられる。

明々後日から出張が続くので実験がしばらくできない。最後に、短いスキャンで磁束1本を詳しく見ることにする。±50mV、71layers、変調振幅1.5mVrms、6nm四方、64×64点、約19時間のマッピング。

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