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2011年10月 5日 (水)

NbSe2 RRR=40 #110928-1 STM/STS by 3He-STM(その5)

今週末は停電なので、その前の最後のスキャンとして、最低温430mKでの詳細なマッピングを行うことにする。このデータを数値的にFermi関数で畳み込むことにより、より高温でのデータをシミュレートすることができる。

+5mV/0.1nA、65nm×65nm、64点×64点、変調振幅0.05mV、±2.8mV。約40時間のマッピング。

この一連のNbSe2の実験は、9月からポスドクにきたFuさんにシステムを覚えていただくことも目的だったが、ほぼ完璧に覚えていただけた。

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