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2010年12月16日 (木)

Bi2Se3 #3-3 STM/STS by 3He-STM(その20)

実験再開。出張中針を引いてあったので、z方向のクリープの影響が大きくなってしまう。この影響を低減するためと、欠陥がどの原子サイトにあるのかを同定するために、100nm四方の超高分解能トポグラフを1日かけて取ることにする。土曜、日曜が出張なので、金曜夜からのスキャンができるようにするためでもある。

+0.1V/0.2nA、5nm/s、2048×2048ポイント。23時間弱かかる予定。ゴミ付近での発振を避けるため、フィードバック条件を若干弱めた。

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